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威尔WALE FDI6500H-vf 轮廓度和粗糙度测量仪

集表面尺寸、轮廓度、波纹度及粗糙度测量分析于一体,整合核心测量功能,无需多次切换测量模式,一次测量即可全面评估零件表面质量,大幅提升检测效率,降低人工成本。
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仪器详情
仪器参数
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全参数一体化测量

集表面尺寸、轮廓度、波纹度及粗糙度测量分析于一体,整合核心测量功能,无需多次切换测量模式,一次测量即可全面评估零件表面质量,大幅提升检测效率,降低人工成本。


复合低噪驱动器

采用PEEK复合材料作为摩擦导轨核心材料,材质耐磨、耐腐蚀,搭配内置自润滑装置,实现低噪平稳运行,无需频繁维护,有效延长设备使用寿命,适配长期稳定运行需求。


大理石立柱体

配备自主创新型大理石立柱体,大理石材质具备出色的隔振性与稳定性,搭配精密直线导轨与丝杠传动系统,定位精准,进一步提升测量精度与设备运行稳定性。



全参数一体化测量

集表面尺寸、轮廓度、波纹度及粗糙度测量分析于一体,整合核心测量功能,无需多次切换测量模式,一次测量即可全面评估零件表面质量,大幅提升检测效率,降低人工成本。


复合低噪驱动器

采用PEEK复合材料作为摩擦导轨核心材料,材质耐磨、耐腐蚀,搭配内置自润滑装置,实现低噪平稳运行,无需频繁维护,有效延长设备使用寿命,适配长期稳定运行需求。


大理石立柱体

配备自主创新型大理石立柱体,大理石材质具备出色的隔振性与稳定性,搭配精密直线导轨与丝杠传动系统,定位精准,进一步提升测量精度与设备运行稳定性。


FDI6500H-vf 轮廓度和粗糙度测量仪 技术参数
行程长度0.1-130mm
测量速度轮廓测量速度0.02-2mm/s
粗糙度推荐测量速度0.1mm/s-0.5mm/s
X方向取样间距0.02μm至10μm,可调整
每次测量最多测量点6500000点
X轴分辨率1.2nm
测头测量范围13mm
测头分辨率1.2nm
残余误差¹5nm
距离测量显示误差EA(MP EEA)²±(1+2L/150) μm
半径测量显示误差Rk(MPER)²R≤10mm:±1.5μm
10mm<R≤20mm:±(1+R/12)μm

注:

1、测量和评价条件按照DIN EN ISO 3274,Lc=0.25mm,Lc/Ls=100.测量速度V=0.1mm/s时的残余误差。

2、所有的信息参考VDI/VDE 2629文件1-MPE最大允许误差。长度L和半径R以mm为单位。


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